HAST 試驗箱 壓力老化箱

應用領(lǐng)域：

廣泛用于IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速老化壽命試驗。

產(chǎn)品特點：

◆內(nèi)膽采用雙層圓弧設計,可以防止試驗結(jié)露滴水現(xiàn)象，從而避免產(chǎn)品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結(jié)果。

◆采用7寸真彩式觸摸屏，擁有250組12500段程序，具有USB曲線數(shù)據(jù)下載功能，RS-485通訊接口。

◆采用干濕球傳感器直接測量(控制模式分為：干濕球、不飽和、濕潤飽和等3種模式)

控制與安全系統(tǒng)

1. 智能控制系統(tǒng)

• 控制器：7英寸真彩觸摸屏，支持250組程序、12500段編程，數(shù)據(jù)可通過USB導出，兼容RS-485通信。

• 控制模式：干濕球、濕潤飽和、不飽和三箱控制，滿足IEC 60068-2-66、JESD22-A110等標準。

2. 安全保護機制

• 多重防護：超溫/超壓報警、斷水保護（濕度用水與電熱空焚）、機械式壓力安全閥、緊急泄壓裝置。

• 耐壓設計：箱體可承受150℃下2.65 kg/cm2壓力，并通過6 kg/cm2水壓測試。

• 反壓門鎖：內(nèi)部有壓力時自動鎖止，防止誤操作。

3. 擴展功能

• BIAS偏壓端子：標配48個端子（可擴展至55個），支持交直流125V 1A，符合JESD22-A110規(guī)范。

HAST 試驗箱 壓力老化箱

應用領(lǐng)域與標準符合性

1. 行業(yè)應用

• 電子工業(yè)：IC封裝、半導體芯片、PCB線路板的密封性與耐濕性測試。

• 新能源：光伏組件（EVA）、磁性材料的高壓濕熱老化評估。

• 汽車與航空航天：車載電子、航天器零部件的可靠性驗證。

2. 符合標準

• 國際標準：IEC 60068-2-66、JESD22-A110/A118、ASTM D5427。

• 國內(nèi)標準：GB/T 2423.40（未飽和高壓蒸汽濕熱試驗）。